DSA8200

测试、测量和监测仪器供应商泰克公司宣布推出新型DSA8200数字串行分析仪取样示波器、全新的远程取样电子模块和增强型IConnect软件，使其成为串行数据网络分析应用的理想解决方案。全新TDR(时域反射技术)和电子模块是TDR测试技术20年来***重要的成果，及时地解决了高速串行数据标准带来的更高要求和挑战。

数千兆串行标准的出现促使功率预算和时序容限下降。因此，准确分析时域和频域中的信号路径和互连情况，对于全面了解当今高速串行设计中信号损失和串音的影响至关重要。PCI Express、串行ATA、XAUI和Infiniband等业界标准，逐渐开始要求使用S参数和阻抗测量来描述这些影响的特征，同时确保系统的互操作性。借助提高2.5倍的TDR性能和新式自动化工具，新的DSA8200解决方案完全符合串行数据网络分析要求。DSA8200代表的性能和***经济的解决方案，可针对当前和各种新兴标准的1 Gb/s到12.5 Gb/s串行数据率，实现准确且可重复的S参数测量。

“工程师很难准确地描述信号路径对数千兆串行数据传输的影响。”泰克公司光电产品线总经理Brian Reich指出。“对于串行数据网络分析而言，泰克DSA8200解决方案为工程师提供了一套节约时间和成本的全能型工具。早先的替代品是一种专业频域仪器??矢量网络分析仪(VNA)。但是，VNA需要繁琐的设置和校准步骤，而且比新型的泰克TDR解决方案昂贵得多。用DSA8200主机、新的电子模块和Iconnect，只需要几分钟即可完成串行数据网络分析中的TDR和S参数测量程序，而用VNA通常需要花费几个小时来安装和执行。”

新型电子模块

四个新型电子模块将高带宽和低噪音结合在一起，以应对低功率、高比特率差分信号的发展趋势。这些模块包括一些高级实用功能，如±250 ps的通道到通道和模块到模块校正、用户可选择带宽以及体积小巧的远程取样器等。每个通道都有一个完全集成的2m电缆和远程取样器，取样器将TDR头紧靠受测设备（DUT），限度地降低探针、电缆和夹具的影响。这可确保系统尽可能保持一种真实状态，以保证测量准确性和可重复性。80E10双通道真差分TDR模块提供12ps入射和15ps反射TDR上升时间、50GHz带宽和600μVRMS噪音(该性能级别的***低噪音)。80E10能够独立生成阶梯信号用于真差分测量，此外还确立了业界领先的全集成系统规范，是20年来TDR性能取得的***重要成果。

其他模块包括80E08，这个双通道TDR电子模块具有18ps入射和20ps反射上升时间，30GHz带宽条件下噪音为300μVRMS。两个新的双通道低噪音电子模块80E09和80E07，在60GHz和30GHz条件下的噪音分别为450μVRMS和300μVRMS。

全新IConnect的关键功能：S参数和EZ Z线观测器

IConnect软件可对千兆串行数据互连进行有效简便的信号完整性分析。IConnect能够迅速测量插入损失和回波损失、反射、眼图、抖动、串音、反射和振铃。IConnect产品系列有三种产品配置：Iconnect、IConnect S参数和带MeasureXtractor的Iconnect。IConnect应用程序包括信号路径完整性分析、阻抗特征、S参数(插入损失和回波损失)、眼图一致性测试以及故障隔离。

新的命令行界面(CLI)支持自动化多端口S参数测量和其他一致性测试，可明显缩短校正和测试时间，同时增加测试可重复性。通过使用自动化CLI脚本，通常需要数个小时来安装和执行的测试程序，现在几分钟内就可以完成，大大提高生产率。

IConnect现在还支持高达1M点的长记录。1M内存可在测量长设备(如电缆)时提供足够的S参数频域分辨率和频率。新的EZ Z线观测器可动态调整示波器，以便在封装、PCB和芯片上实现更有效的故障隔离。IConnect还支持Touchstone文件导出功能。

“泰克公司率先开展基于TDR的S参数测量，并提供***经济有效、产量的测量方法来进行数字设计测量、信号完整性分析和互连一致性测试。”Frost & Sullivan公司测试和测量事业部程序行业经理Kiran Unni说道。“随着新一代S参数用户对此测量方法的了解，他们会寻找一种仪器解决方案，既要为他们所熟悉，同时能够提供准确和可重复的结果。DSA8200是具有时间和成本效益的全能型解决方案，能够在产品开发和制造过程的串行数据网络分析中，实现准确的、可重复的S参数测量。”