XT V 160 X射线检测系统

'XT V 160 X射线检测系统

XT V 160：电子检测用纳米技术（NanoTech） X射线系统高，品质PCB检测系统

XT V 160也被称为Revolution，是利用X-Tek 20年纳米级焦点X射线技术方面的经验研制开发的产品。

XT V 160该系统提供了一个结构紧凑的系统内可能获得的分辨率和放大倍数，非常适用于生产线上和故障分析实验室内电子零部件的检测。

XT V 160是一款通用工具，使操作人员很方便地利用该系统的手动和编程检测功能。最为重要的是，它可用于计算机断层扫描CT检测，根据其完整的三维图像，重构该试样。

XT V 160系统用户可使用精确的操纵杆控制 5 轴样本操控装置。实时 X 射线可以让用户直观操控复杂的印刷电路板和电子元器件，快速找出缺陷。在自动检测模式下，检测样本的效率可达水平。

XT V 160设计用于100% BGA和μBGA 检测，多层板检测和PCB焊接点检测，XT V 160 X射线检测系统是一个使用简便，分辨率高和成本低廉的检测解决方案，是检测实验室必不可少的骨干设备。

XT V 160检测优点

>>拥有的 NanoTech 160kV 源（亚微米焦点尺寸）

>>操作使用直观

>>能在很短的时间内获得高质量图像

>>可装载多块电路板的大尺寸托盘

>>样本长度为 510mm

>>市场领先的放大倍数，适用于100%板检测

>>75°倾斜视角（板平面的方位角为15°），便于检测内部特征

>>购置成本低

>>安全装置，可作为设计标准

>>占用空间小

>>可用于 CT 应用（选购）

系统规格

根据自身特定需求可灵活构建系统

高质量图像

>>领先的微焦点源技术

>>精确控制发出的 X 射线束的功率和方向

>>定性的实时 X 射线相机（每秒 25 帧）

使用直观

>>大尺寸水平防碰撞样本托盘

>>使用操纵杆直观生成实时 X 射线图像

>>配备双显示屏，便于同时开展检测和实时分析

>>学习曲线短 – 1 天内即可操作

>>支持本地语言

注重工作效率

>>自动联锁了 X 射线切断功能的大尺寸机门

>>通过可自定义的宏快速执行元器件自动检测

>>利用条形码读码器自动识别样本序列号（选购）

无锡德方机电有限公司是一家位于无锡、面向全国专业从事几何量计量、检测，理化分析，无损检测，超精加工机床及检测设备服务的机电公司。经过几年的发展，与世界一流计量检测设备厂家建立了深厚的伙伴关系，客户遍布全国各行各业，公司拥有一支24小时快速反应、对测量设备及计量检测经验丰富的服务队伍。

服务范围:

尺寸、位置测量，圆度圆柱度仪、粗糙度轮廓度、非接触表面轮廓测量，三坐标、关节臂测量机，三坐标测座、测头、测针，激光扫描测头，表面组织分析，金属元素分析，镀层厚度测量，硬度测试，淬火层厚度测试，机床检测，机床主轴检测，刀具检测，X射线无损检测，工业CT，标准、非标量具量仪，精密传感器。

合作品牌：

英国泰勒·霍普森Taylor Hobson，英国LK，青岛Metro-3D，英国雷尼绍Renishaw，英国X-Tek X射线检测系统、工业CT，德国LUPHOScan非接触三维形貌测量仪，英国Solartron Metrology输力强，美国Precitech金刚石超精加工机床，德国Fraunhofer，德国Zeiss，奥地利Alicona，美国LION，德国马尔Mahr，日本三丰Mitutoyo等非标在线检具设计、制造

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