冷热冲击试验箱

产品用途该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。二箱式：上部为高温箱，下部为低温箱，两箱之间由样品架连结，经气动系统在两箱间切换。产品符合标准设备符合MIL-STD-883C,GB/T2423.13，GJB-150.5 GJB1217等标准的要求。技术参数 型号WDCJ-162WDCJ-340WDCJ-500WDCJ-010工作室尺寸:mm450×450×450600×600×600800×800×8001000×1000×1000样品区尺寸:mm300×300×250450×450×360650×650×500850×850×700 性能指标温度范围A:-20℃～200℃B:-40℃～200℃C:-60℃～200℃温度波动高温室及低温室均≤±2℃样品区温度波动≤±0.5℃（恒温时）样品区承重20kg30kg50kg温度运行控制系统控制器日本进口UMC-1300真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器韩国进口TEMI880真彩触摸屏(P、I、D﹢S、S、R)微电脑集成控制器（选其一）精度范围设定精度：温度±0.1℃，指示精度：温度±0.1℃，解析度：±0.1℃制冷系统进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式循环系统耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮温度转换时间从低温区到高温区或从高温区到低温区≤5S温度恢复时间≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）温度冲击方法垂直两箱法(两箱式冷热冲击试验箱)以上为标准型试验箱，可根据用户的具体要求定做非标型本技术信息，如有变动恕不另行通知