PC高压加速寿命试验机

產品用途: 加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。

用於調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分佈函數呈什麼樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。

隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，採用了的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。

注意事項：USPCT現在稱為HAST(高度加速應力試驗) 技术参数: 內箱尺寸(Inside dimensions ) Φ30 X 33(L) (cm) 外箱尺寸(Outside dimensions (W?D?H) cm) 約82X 80 X 124 (W*D*H)內容積(Inside capacity) / 升(Liter) 23L內箱材料(Internal material) 不銹鋼#304外箱材料(External material) A極電解板＋粉體烤漆溫度範圍(Temperature range) 105℃～132℃濕度範圍(Humidity Range) 100% / 105 ℃~132 ℃ 溫度分佈均勻度(Temperature uniformity ℃) ±1.0 ℃濕度分佈均勻度(Humidity uniformity %RH) ±5 % 溫度穩定度(Temperature stability ℃) ± 0.3 ℃