GWB－200JA型引伸计标定仪

一、 详细介绍 GWB－200JA型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器。依据JJG762－92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。结构特点及读数方式1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25?；***小分度（游标分度）0.0002?；旋转外筒分度0.002?。位移变化读数为：L=（a+0.001b+0.0001c）-(a0+0.001b0+0.001c0)其中：a－内筒毫米刻线读数b－外筒刻线读数c－游标刻线读数a0 b0 c0 为相应位移变化前读数 精密微分筒二、各项技术精度指标1、测量引伸计标距范围Ｌmax 500?2、测量支座上支臂安装孔径 φ10；φ283、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5?/格4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002?/格5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002?/格6、高精密微分测头精度指标标定仪示值误差：量程0.5?以内≤0.5μm 误差量程0.5?以上≤0.10% 逐点相对误差参照标准：JJF1096-2002 引伸计标定器校准规范ISO9513:1999 金属材料单轴试验用引伸计标定JJG762-1992 引伸计检定规程可进行0.5级引伸计的标定

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