PSS LD器件综合测试系统

产品简介LD器件综合测试系统（PSSLIV）用于LD、TOSA、BOSA等半导体激光器性能的综合测试，采集速度高达1024点/秒，内置大面积高响应度PIN，并可提供外接光探头接口进行TO器件的性能测试。该系统可完全替代keithley的2400+6485的测试方案，无需二次开发。

系统支持共阳或共阴的多种LD封装形式，可精确绘制L-I、V-I、Im-I、dL/dI特性参数曲线，以及阈值电流、Rs、Kink点、SE等参数；支持测试数据和图形保存，并可自动将测试数据导出至Excel文件，测试速度快，精度高，可大幅提高用户测试效率。

性能特点Ø 内置大面积PD，提供外置PD接口，支持TO测试Ø 兼容前光和背光两种方式计算阈值Ø 电流扫描范围0-100mA，扫描速度1024点/秒Ø 扫描电流输出和恒流输出两种工作模式Ø 自动绘制L-I、V-I、Im-I特性曲线；自动计算Ith、Po、Vf、Im、Rs，、Pslope等，并自动评定是否合格Ø 系统自带数据库，可保存LD测试的数据和回放各种参数及特征曲线图片Ø 用户可以自行校准功率、电流、电压、背光Ø 测试仪的传输接口开放，用户可以选用自己的上位机软件来采集数据Ø 具有防止浪涌电流的功能，慢启动电路，限度保护激光器

技术参数参 数指 标激光器封装类型共阳型、共阴型和独立性主要采集参数驱动电流、电压、光功率、背光电流主要计算参数Ith、Po，Vf，Im、Rs、Pslope等以及各种定点查找驱动电流范围：0-100mA，1024个点，step<0.1mA，误差小于0.1mA背光电流范围：0-2500uA，误差小于5uA显示光功率范围：0-10mW，误差小于0.12dB正向电压范围：0-2.5V，误差小于10mV（可定制到0-5V）扫描模式扫描电流输出或直流电流输出校正功能用户可自行校准功率、电流、电压、背光测试时间1.3s传输接口Rs232数据接口，提供标准上位机软件及DLL连接口，可开放通信协议由客户自行编写上位机软件探测器检测波长800-1700 nm（支持850nm VCSEL器件测试）数据库支持本机数据库及SQL数据库服务器光口检测器直径1.0 mm/3.0mm光口四向性差异≤0.1dBm光纤适配器通用适配器（可配FC或万能接头）光纤单模、多模通信口RS232（可定制）电源AC220V±10% /50Hz（110可定制）工作环境温度0 - 40储存温度0 - 40尺寸360*300*110mm质保期一年