供应XQ15-GⅠ激光平面干涉仪

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用途: 可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

特点: 防震性能好、有极好的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品,大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

技术参数: 第一标准平面(A面),工作直径D1=Φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20) 第二标准平面(B面),工作直径D2=Φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20) 准直系统-----------------工作直径Φ146mm,焦距 f = 400mm 光源规格-----------------激光ZN18(He-Ne) 干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm

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