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LED、LCM專用光阻與藍寶石機板高度尺寸檢測

2023年11月02日 19:14

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150X100mm

A. 現今在LCM & LED 業界在光阻(PR)與藍寶石機板(Satphire), 檢測尺寸高度與外型之輪廓要求精度達1um,而業界均採SEM 電子顯微鏡檢測, 但SEM 電子顯微鏡檢查缺點為: 1. 採破壞式檢查 2. 價格非常昂貴 B. 我們力訓科技現今推出全新功能 Tomas 白光干涉檢查系統, 取代SEM 電子顯微鏡檢測缺點, 更重要提供我們的專業, 滿足所有客戶需求 C. 範例如下:

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