原子力显微镜 HR-AFMWorkshop Z方向测量噪音水平0.03 nm

AFMworkshop原子力显微镜的主要优势：

1、AFMworkshop做为原子力显微镜发明人团队成立的公司之一，

特别重视性价比，希望研究人员可以在有限的经费下获得高质量的数据。

2、产品设计更开放，更简洁，软件基于Labview，全自动下针，极易上手

3、可提供各种定制服务，完成各种实验需求，如高真空应用，环境控制应用，音叉应用，拉曼联用等。

HR-AFM样机实验室已经安装调试完毕， 首次测样免费，

欢迎前来体验试用，

HR-AFM可以轻松完成高质量的成像诸如DNA，纳米颗粒、纳米管和石墨烯，可以轻松完成原子像。

HR-AFM是一个紧凑的桌面式AFM，他可以保证在较低的价格下获得科研级的高分辨率图像。

可提供较快的扫描速度，基本上可以10秒内完成一张高分辨图像。

快速可视化接近控制：允许在不到一秒的时间内将探针从几十微米以内的表面移动到一毫米以外。下面是侧视视频光学显微镜的快速接近控制在“下降”和“上升”的位置。

超高分辨率侧视显微镜甚至能看到悬臂和针尖：

可选三款扫描器，详细指标如下：

100 × 100 × 1750 × 50 × 1715 × 15 × 7Engineering Specifications

XY Resolution0.010 nm0.005 nm0.003 nm XY Linearity<0.1%<0.1%<0.1% Z Resolution0.003 nm0.003 nm0.0015 nm Z Linearity<0.1%<0.1%<0.1%Performance Specializations

XY Range100 μm50 μm15 μm XY Linearity<1%<1%<1% XY Resolution

Closed Loop<6 nm<3 nm<1 nm Open Loop<1 nm<1 nm<0.3 nm Z Range17 μm17 μm7 μm Z Linearity

Open Loop<5%<5%<5% Closed Loop<1%<1%<1% Z Sensor Noise1 nm1 nmN.A. Z Feedback Noise<0.15 nm<0.15 nm<0.035 nmActuator TypePiezoPiezoPiezoDesignModified TripodModified TripodModified TripodXY Sensor TypeStrain GaugeStrain GaugeStrain GaugeZ Sensor TypeStrain GaugeStrain GaugeN.A.

Electronic Control Specifications

XY Scan2 × 28-bits24-bit scan DAC, 4-bit gain192 KHz XY Linearization Control2 × 24 bits24 bit ADC192 KHz Z Axis ControlAnalog4 amplifier – GPID1 microvolt noise Input Signal Bandwith5 MHz

Z axis Signal Capture20 bits16-bit ADC, 4-bit gain50 KHz Phase Signal Capture2 × 16bitsADC50 KHz L-R Signal Capture2 × 16 bitsADC50 KHz Amplitude Signal Capture2 × 16 bitsADC50 KHz Z Error Signal Capture2 × 16 bitsADC50 KHz Main Controller MPU80 MHz/105 DMIPS, 32 Bits (5-stage pipeline, Harvard architecture) Excitation/ModulationAnalog PLL0-800 KHz

CommunicationUSB 2.0

Signal capture specified includes the image logger option. Without Image Logger 1 X 16 bitsOptional Electronics Specifications

User Input Signal (1)32 × 18 bitsADC625 KHz User Output (1)32 × 18 bitsDAC625 KHz User Monitor(1)48 LinesDigital IOMHz Optional Controller MPU (2)80 MHz/105 DMIPS, 32 Bits (5-stage pipeline, Harvard architecture)(1) Optional User I/O upgrade (2) Used for MFM, PhotoCorrect, EFM原子力显微镜参数指标原子力显微镜（AFM）可以在不破坏样品内部结构的情况下观测样品的微区三维形貌和多相结构；同时可对样品表面的物理化学特性进行研究，数值测定与分析。

强调指出本指标（即验收指标）均为客户实际工作状态下的指标。

二、配置及参数要求

1.标准工作模式：

1.1轻敲模式(vibration mode)

1.2接触模式 (Contact mode)

1.3相位成像模式 (Phase imaging)

1.4横向力模式 (Lateral force Microscopy LFM)

1.5力曲线测试（Force curve）

1.6 纳米操控 （nanomanipulation）

1.7 纳米刻蚀 （nanolithography）

1.8 力矩阵模式可测试样品弹性模量和粘附力 （Force mapping）

1.9 摩擦力测试 （Friction force Microscope）

2. 可选工作模式：

2.1 磁力显微镜模式（MFM mode）

2.2 静电力显微镜模式（EFM mode）

2.3 导电显微镜模式（C-AFM mode）

2.4 液相模式 （Liquid scan mode）

2.系统尺寸：AFM（不包括控制器与电脑）以及保障AFM达到招标要求所需的防震隔音电磁屏蔽系统整体尺寸不超过50*50*85cm。

3. ★自动化控制：

3.1具有软件自动进针功能。通过软件控制Z方向马达实现探针自动进针，马达行程25mm，最小步长330nm，最大速度 8 mm/分钟。

可通过电脑全程观察下针过程，精准定位。

4.扫描器

4.1★扫描器须是X,Y,Z三轴分离的扫描器。扫描范围 ：50×50×17μm，Z方向系统噪音0.035nm。 可选100×100×17μm， 15×15×7μm 扫描器。

4.2 样品台尺寸：25mm*25mm*18mm 。

5. 光电二极管测试带宽≥500KHz

6.控制器:

6.1: 数据连接接口USB输出

6.2: XY轴扫描使用2个工作在192Khz的28位DAC控制。

6.3: 振幅/相位探测器频率范围0Khz-800kHZ,输出电压10Vpp，增益控制

6.4: Z轴反馈控制使用GPID（通用总线接口），具有4位增益系统，

6.5: 提供智能故障诊断系统，如发生故障，可迅速进行诊断与处理。

7.操作软件：使用Laview环境语言控制，免费提供操作软件，并提供终身免费维护及升级，同时开放人机交流界面的源代码。同时提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 数据分析系统

8．电脑配置不差于以下要求：8G内存工作站主机；4核的Intel处理器; 硬盘总容量1T; 1台34寸带鱼屏显示器。

9. 光学系统：

9.1 顶视系统CMOS像素点≥300万，光学分辨率≤2微米，视场范围从2mm*2mm到300um*300um可调，放大倍率从45倍到400倍机械可调。

9.2 ★具有侧视系统使用500万像素高质量长焦显微镜头，侧视显微系统分辨率高于10微米，提供可视化下针，可以通过电脑精确观察控制下针过程，防止撞针，也有利于做界面力粘小球等等高阶力学实验。

10. 防震隔音屏蔽系统要求：能够保证AFM在指定的安装环境正常工作。

11.附件：

11.1 探针：10根轻敲模式探针。

11.2 标准样品：校准光栅，和云母片。

11.3 工具：各种操作AFM所必须的镊子以及螺丝刀等。