深圳市鸿怡康电子有限公司
主营产品:
2023年07月19日 18:21
类型 |
直流参数测量仪 |
封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。
大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸不同的LGA FLASH; 主控板兼容设计,只要更换主控板的主控IC,可实现芯邦,UT165,安国,SMI,NETWORK方案可互换!。
采用一拖四架构设计,省去外置HUB,每台电脑可同时量产16PCS Flash 芯片,效率倍增; LGA测试座测试寿命可达20万次以上,是YAMAICHI和OKINS同类LGA SOCKET寿命的10倍以上;并且探针可更换,维修方便,成本低; 采用手动翻盖式结构,操作方便; 上盖的压板采用特殊结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 高精度的定位槽,保证LGA定位精确,生产效率高; 整机24小时工作性能稳定可靠,是FLASH经销商及U盘工厂好帮手!
探针材料:铍铜(标准); 绝缘材料:FR-4、PPS等; 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离); 对Flash进行清空及分类挑选。
对Nand Flash进行格式化,测试实际可以用容量。
对Flash进行直接量产,提高U盘生产效率。
可以定制TF卡1拖4的夹具; 可以定制测试Flash wafer晶圆探针台; 可定制三合一开卡器; 可定制基于SSD和基于U盘FLASH的LGA测试治具; 提供基于U盘的1拖4 TSOP测试夹具(兴邦、安国、迈克微),更换SOCKET可以实现LGA与TSOP共用; 可定制UDP一拖十六测试夹具; 可提供FLASH全端测试解决方案;比如,基于编程器(烧录机)原理的烧录(低端格式化)和基于U盘的低级格式化解决方案
联系方式