纳萨斯 TDD频谱仪

DONATD_LTETDD频谱仪：

在TD_LTE现网干扰测量及定位遇到瓶颈，TDD制式下行基站信号，上行业务信号，空口底噪或其他干扰信号叠加在相同工作频段中，传统频谱分析仪 无法识别分离。需要大范围关闭TD_LTE站点，方能测量定位。DONATD_LTE干扰分析仪，解决该行业技术瓶颈，

识别分离测量多种叠加信号分别测量各分量频谱特征，可直接测量定位工作带内各种带内干扰。可极大提高TD_LTE干扰测量定位优化效率，是TD_LTE运维不可或缺的工具。技术全国领先，填补行业空白。

DONATDD频谱仪功能优势：

网络 阶段 常见干扰源 DANATD_LTE干扰分析仪 传统频谱仪

TD_LTE

建网前清频 各种带内干扰源测量定位 √ √

运行中LTE现网干扰定位测量优化

带内信道及干扰底噪测量 下行业务帧频谱 √ X 上行业务帧频谱 √ X 底噪频谱 √ X 下行导频 √ X 上行导频 √ X

DCS1800

带外阻塞 √ √ 互调 √ X 杂散 √ X GSM900 互调 √ X 谐波 √ X PHS 带内杂散 √ X 阻塞 √ √ WLAN 杂散 √ X WLAN 阻塞 √ √ 北斗 杂散 √ X 无线电视发射台 带内，及杂散 √ X 雷达 杂散 √ X MMDS和射电天文 带内干扰及杂散 √ X 多运营商 带内干扰及杂散 √ X CDMA850 谐波 √ X 终端 频偏 √ X 系统内器件 时隙交叉干扰 √ X 干扰器或信号屏蔽 带内+外干扰 √ √ 其他 … √ … 可适合测量定位项合计： 25 4 备注：“√"为适合应用测试 ， “X”为不适合

DONA TD_LTETDD频谱仪表 TDD频率测量范围

A频段:2010M~2025M;D频段:2570M~2620MF频段:1880M~1920ME频段2300M~2400M FDD 测量频率范围 9KHz-6GHz 功能特点

DONATD_LTE系统干扰分析仪，全球领先水平的识别TDD时分系统相同频谱叠加的

下行业务信道频谱，无线环境底噪频谱，上行业务频谱 精准分离，分别检测技术。解决TDDLTE的时隙交叉干扰，外部干扰，网间杂散干扰，互调干扰等干扰源测量难题，大大提高4G无线干扰排查优化效率。 RBW 10Hz-10MHz可调 扫描速度 24000信道/秒，识别32uS瞬间信号频谱特征 测量误差 +-2dB（典型值） 设备平均热噪声水平（dBm/Hz） 9kHz-100kHz:-123 200kHz-300kHz:-242 300kHz-6GHz-152 工作温度 0℃-+50℃ 环境平台CPU 1.7GHz 核心/线程数 双核心/四线程 内存容量 4GB 储存容量 64GB 触控屏 支持十点触控 无线网卡

支持802.11b/g/n无线协议 续航时间 4小时以上具体时间视使用环境而定 GPS 蓝牙GPS 电磁兼容性 符合EU理事会EMC 指令 2004/108/ECEN61326,CISPR 11,

Class A 功耗 小于或等于450W 电源要求 90VAC至264VAC，50Hz 至 60Hz 冲击 小于15G，半正弦，持续时间11 ms。

相对湿度 90%RH，30℃ 地图 兼容MapInfo的MIF/MID/TAB文件 校准的初始精度 1×10–7 每天老化

1 ×10–9 每10年老化 3×10–7（在运行10年后） 温度漂移 3×10–8(5°C - 40°C) 累积误差（温度+老化） 4×10–7（校准后10年内，典型值）