供应厂家直销测试座测试治具

规格：1、DDR3×16 96 Ball pitch：0.82、频率F：超过2400Mhz3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类内存颗粒 材料&特性：1、Socket材料：优质铝合金、工程玻纤、工程塑料2、PCBA板材料：FR4、镀金焊盘30mil，导电性、抗氧化性强3、探针： 材料： 针管：磷铜 针头：铍铜 弹簧：琴钢丝 电气性能： 额定电流：1.5A 接触阻抗：65-182 mohm（工作行程状态下） 机械性能： 压力：28g±20%（工作行程内） 测试寿命：10 万次 产品特点及性能参数： ◆产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；◆产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，把频率衰减降到，减少误测；◆有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；◆采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；◆采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；◆采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB，探针板与 PCB 孔定位，保证探针与 PCB 精确定位，如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；◆采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高，DDR3 系列频率可达 2000MHZ；◆探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便维护◆高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位精确，取放 IC 方便，从而提高测试效率；◆测试寿命长，有效测试 10 万次以上；（视使用环境及相关操作而定），为生产争取宝贵时间