覆层测厚仪|薄膜测厚仪TT240(图)

涂层测厚仪技术参数 测头类型：N 测量原理：电涡流 测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬) 低限分辨力：1μm(10um以下为0.1um) 探头连接方式：分体式导线连接 示值误差： 一点校准(um)：±[3%H+1.5] 两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5] 测量条件： 最小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10 基体最小面积的直径(mm)：ф5 最小临界厚度(mm)：0.3 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH 统计功能：平均值、值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE） 上下限设置：无 存储能力：350个测量值 打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑 关机方式：手动和自动 电源：二节AA型碱性电池 外形尺寸：152×47×35mm 重量：370g