DDR3-内存颗粒测试治具夹具一托八效率高超频测试

DDR3*8位单/双晶圆内存颗粒测试夹具(一托八)

结构，零磨损

金线导电，不烧焊盘和IC

过压力保护，导电胶寿命更长

压力自适应，兼容不同厚度的颗粒

限位框可更换，兼容不同大小的内存颗粒

参数:

产品型号: DDR3-GF6U63

外壳材质: 铝合金, 电木

导电体: 金线导电胶( GCR )

绝缘电阻 : 1000 mΩ? Min,At DC 500V

耐电压: 700 AC / 1Minute

接触阻抗: <30 mΩ

机械寿命: 100，000 Times

工作温度: From -40℃ to + 155℃

特点:

手动翻盖滚轴式结构，省力又方便，零磨损，号：ZL 2012 20056976.7压块浮动结构，延长导电胶寿命，适用不同厚度的IC

通用性高，只需换限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤16MM）金手指镀金厚度是普通PCB的10倍（30 μm），保证测试治具有更好的导通和耐磨性金线导电胶减短IC与PCB之间数据传输距离，测试更稳定，频率可达2000MHZ，且更换方便，成本更低全新设计更薄，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，频率衰减更低，减少误测

与同类治具比较:

项次 项目名称 斯纳达 公司 “TW” 备注

1 治具价格 低 高

2 治具磨损 低 高 结构，除PCBA与导电胶2个耗材外，其他一律保修1年

3 导电胶过压保护 有 无 浮动压块，压力自适应，导电胶寿命延长1倍以上

4 不同厚度芯片的兼容性 好 不好 浮动压块，压力自适应，兼容不同厚度的颗粒测试

5 售后服务 好 一般 本地支持，服务响应速度快

联系电话: 程先生 QQ:284198499