BURN-IN 集成电路高温动态老化系统 MIL-STD-883D GJB548

集成电路高温动态老化系统

★符合标准：MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。

★适用范围：适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路，包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。

技术特点：

●一板一区，可满足16种不同试验参数的器件同时老化。

●强大的图形发生系统，64路数字和2路模拟可编程信号。

●完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。

★技术性能

产品型号BIC64-16BIC64-8产品名称集成电路高温动态老化系统高温试验箱ESPEC产PH-201大容量高温试验箱1台套，内箱尺寸：60cm×60cm×60cm，水平风道设计。ESPEC产LC-213高温箱一台，内箱尺寸：45cm×45cm×45cm，垂直风道设计。试验区域16个（一板一区）8个（一板一区）试验容量200×16=320位（以DIP14为例）136×8=1088位（以DIP14为例） 一级电源8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选二级电源◆每个通道提供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。

◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。

◆输出能力：±1.00V～±18.00V/10A。

◆电源监测：实时监测记录二级电源的电压，并可生成图形曲线，便于试验监控。数字信号

◆每个通道：64路数字信号。

◆编程能力：编程深度256Kbit；最小编程步长：100ns；编程分辨率：100ns；信号频率：5MHz。

◆寻址能力：可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35,可寻址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，AYY：A00～A17。

◆信号特性：每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。

◆驱动能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。模拟信号◆模拟信号数：2路

◆波形类型：正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。

◆模拟信号指标：信号可编程频率：1Hz～32KHz；程控幅度范围Vpp：0～±10V；

直流偏移量范围Vdc：0～1/2 Vpp；编程步长: 0.01V；驱动能力：≥1.0A；上位机工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面，友好的人机对话窗口，强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择，软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能，试验状况一目了然，方便用户随时查验。电网要求单相AC220V，6KW单相AC220V，3KW外形尺寸WхHхD：140х188х132（cm）WхHхD：105х188х112（cm）重量约500kg约300kg