温度冲击应力筛选试验箱驰名品牌

温度冲击应力筛选试验箱​为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，温度冲击应力筛选试验箱​降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为：温度冲击应力筛选试验箱​也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。

可执行AMP（等均温变）、三箱冲击、两箱冲击、高温储存、低温储存功能等均温速率可设定范围5℃～30℃(40℃)满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求温度冲击应力筛选试验箱​采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能感测器放置测试区出（回）温度冲击应力筛选试验箱​风口符合实验有效性机台多处报警监测，配置无线远程报警功能​满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、温度冲击应力筛选试验箱​DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

产品&规范厂商名称高温低温温变率循环数循环时间备注MIL-STD-2164、GJB-1032-90

电子产品应力筛选赛思工作极限温度工作极限温度5℃/min10～123h20minSETH赛思MIL-344A-4-16

电子设备环境应力筛选设备或系统71℃-54℃5℃/min10SETH SETH赛思​

MIL-2164A-19

电子设备环境应力筛选方法赛思工作极限温度工作极限温度10℃/min10SETH​

驻留时间为内部达到指定温度10℃时NABMAT-9492

美军海军制造筛选设备或系统55℃-53℃15℃/min10SETH​

驻留时间为内部达到指定温度5℃时GJB/Z34-5.1.6

电子产品定量环境应力筛选指南组件85℃-55℃15℃/min≧25SETH​

达到温度稳定的时间GJB/Z34-5.1.6

电子产品定量环境应力筛选指南设备或系统70℃-55℃5℃/min≧10SETH​

达到温度稳定的时间笔记本电脑主板厂商85℃-40℃15℃/min——SETH东莞赛思​