瑞士普利塞斯XR 205SM-DR半微量电子分析天平

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量程：92/205g 可读性：0.01/0.1mg 重复性：0.03/0.1mg 线性：0.06/0.2mg 秤盘尺寸（mm/inch)：80/3.1 防风罩尺寸：230mm

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