东莞市大中仪器有限责任公司
主营产品:
2023年08月20日 16:47
简要说明:概述: 本機器可模擬 Notebook 、手機、 PDA 各種動作之操作,以了解產品在多次使用後,各 種零件的耐久狀況。由電腦設定測試動作,可隨時更改或儲存,並可同時執行數個測試 動作,一台電腦同時控制數台機器。
详细介绍: Notebook 測試規格 : 磁碟片插入、退出試驗。
光碟機插入、退出試驗。
PCMCIA 插入、退出試驗。
電池插入、退出試驗。
各種接頭插入、退出試驗。
(PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 ) 桌面放落試驗 。
手機測試規格 : 天線上、下抽取試驗。
天線彎曲試驗。
電池插入、拔出試驗。
連接器插入、拔出壽命試驗。
ON 、 OFF 開關機壽命試驗。
上蓋打開、關閉壽命試驗。
短距離落下壽命試驗。
SIM 卡插入、拔出壽命試驗。
PDA 測試規格 : CF 卡插拔耐久試驗。
Battery 蓋插、拔耐久試驗。
DC 插頭耐久試驗。
連接器插、拔耐久試驗。
筆插拔耐久試驗。
觸控螢幕摩擦耐久試驗。
ON 、 OFF 開關機耐久試驗。
简要说明:概述: 本機器可模擬 Notebook 、手機、 PDA 各種動作之操作,以了解產品在多次使用後,各 種零件的耐久狀況。由電腦設定測試動作,可隨時更改或儲存,並可同時執行數個測試 動作,一台電腦同時控制數台機器。
详细介绍: Notebook 測試規格 : 磁碟片插入、退出試驗。
光碟機插入、退出試驗。
PCMCIA 插入、退出試驗。
電池插入、退出試驗。
各種接頭插入、退出試驗。
(PRINT 埠、 COM 埠、 USB 、 PS2 等等 ) 桌面放落試驗 。
手機測試規格 : 天線上、下抽取試驗。
天線彎曲試驗。
電池插入、拔出試驗。
連接器插入、拔出壽命試驗。
ON 、 OFF 開關機壽命試驗。
上蓋打開、關閉壽命試驗。
短距離落下壽命試驗。
SIM 卡插入、拔出壽命試驗。
PDA 測試規格 : CF 卡插拔耐久試驗。
Battery 蓋插、拔耐久試驗。
DC 插頭耐久試驗。
連接器插、拔耐久試驗。
筆插拔耐久試驗。
觸控螢幕摩擦耐久試驗。
ON 、 OFF 開關機耐久試驗。
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