信号完整性测试 USB DDR SI测试实验室

信号完整性的重要性

现在的高速数字系统的时钟频率可能高达数百兆 Hz，其快斜率瞬变和极高的工作频率，以及很大的电路密集度，必将使得系统表现出与低速设计截然不同的行为，出现了信号完整 性问题。破坏了信号完整性将直接导致信号失真、定时错误，以及产生不正确数据、地址和 控制信号，从而造成系统误工作甚至导致系统崩溃。如果电路中信号能够以要求的时序、持续时间和电压幅度到达IC，则该电路具有较好的信号完整性。反之，当信号不能正常响应时，就出现了信号完整性问题。SI（Signalintegrity）解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现，物理实现中数字器件开关行为的模拟效果往往成为设计成败的关键。

SI信号完整性的测试手段有哪些？

目前应用的比较广泛的 信号完整性测试手段应该是波形测试，即使用示波器测试波形幅度、边沿和毛刺等，通过测试波形的参数，可以看出幅度、边沿时间等是否满足器件接口电平的要求，有没有存在信号毛刺等。

SI信号完整性-抖动测试

抖动测试现在越来越受到重视，因为专用的抖动测试仪器，比如TIA（时间间隔分析仪）、SIA3000，价格非常昂贵，使用得比较少。使用得多是示波器加上软件处理，如TEK的TDSJIT3软件。通过软件处理，分离出各个分量，比如RJ和D，以及DJ中的各个分量。对于这种测试，选择的示波器，长存储和高速采样是必要条件，比如2M以上的存储器，20GSa/s的采样速率。