THINKFOCUS供应超微型共焦位移传感器 CDS-200 END0 1.5

光谱共焦位移传感器CDS-200 END0 1.5 原理光谱共焦法是利用波长信息测量距离的。由光源射出一束宽光谱的复色光（呈白色），通过色散镜头发生光谱色散，形成不同波长的单色光。每一个波长的焦点都对应一个距离值。测量光射到物体表面被反射回来，只有满足共焦条件的单色光，可以通过小孔被光谱仪感测到。通过计算被感测到的焦点的波长，换算获得距离值。光谱共焦法的同轴共焦原理可以保证即使被测物存在倾斜或者翘曲，也可以进行高精度的测量，测量点不会改变。

光谱共焦位移传感器 CDS-200 END0 1.5特性

超小外径Φ6.0mm超微测头可以再狭小空间内安装使用，可以对内壁或凹槽侧壁进行高精度测量。超微型测头更便于集成到复杂的加工设备上使用，不会过大影响原设备的结构，可以实现加工过程中实时控制和检测，在加工的过程同时完成品质的控制。

型号CDS-200测头END0 1.5量程(mm)1.5工作距离(mm)2.1测量方向轴向倾角(deg)±14°光斑直径(μm)7.1重量(g)10分辨率(nm)220精度(nm)300***小可测量厚度(μm)-

测量模式距离和厚度采样速度100 Hz to 2000Hz数字输出 USB 2.0 and RS232 (up to 460800 baud)数字分辨率距离模式: 30 bits厚度模式: 15 bits同步输入和输出0V - 5V TTL同步信号丰富的触发功能功能“双频率”模式“LED自动调节”模式“抓第一峰”模式“保持***后值”模式“厚度校正”电源/功耗100V to 240 V AC 50-60 Hz / 25W

光谱共焦位移传感器典型应用 微位移、微形变高精度测量超高线性度，可以作为传感器的标定使用通过长度测量可以测量计算难以获取的微小应变 纯光学测头，不会受到强磁干扰，无温度散发，可以在真空中使用 在线检测高测量速度和开放的接口，可以应用于生产线相关的检测或控制系统色散原理具有超高的耐表面性，高光洁表面也可以稳定检测侧视测量，可以测量***小直径7mm的微孔侧壁形貌 测振计高速的测量频率和纳米级的分辨率，可以应用在物体的振动测量 厚度测量独创的色散共焦成像原理可以测量透明材料的厚度，具有极高的精确度 液位控制非接触式测量，可以对液位进行检测和测量 表面形貌扫描 符合新的ISO25178规定，能够测量几纳米以下表面粗糙度 非接触式粗糙度测量，对表面没有任何影响连接三维扫描设备，能够实现复杂表面的亚微米级精度的2D和3D测量 如有相关应用需要，请来电或留言跟我们联系，我们将给您提供专业的技术支持！THINKFOCUS 官网：http://www.think-focus.com/