供应托普2013YMJ-A叶面积仪

对于温室观赏凤梨的叶面积指数，U-3000叶面积仪法的测定结果总体上高于另外2种方法。“新大陆”品种，3种方法测定的结果在0.05水平上没有显著差异；而“火炬”品种，U-3000叶面积仪法的测定结果与LAI一2000叶面积仪，回归方程叶面积测量仪这两种方法在0.05和0.01水平都存在显著差异。

LAI一2000冠层分析仪法根据光学原理来确定冠层的叶面积指数，可以直接用于群体测量。在进行叶片很多的大冠层分析中应用十分方便。用该仪器测量冠层叶面积指数，不需要破坏作物本身，因此不会对冠层造成影响。但是由于该仪器比较贵重，一般只在科研单位中使用，不可能在生产中应用。

叶面积仪技术参数：

测量参数：叶面积、平均叶面积、叶长、叶宽、长宽比

测量单位：毫米，平方毫米

测量精度：±2%

分辨率：1mm2

测量长度：1000mm

测量宽度：160mm

测量厚度：8mm

主机数据存储：200组

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