反射率测量仪-TSS-5X-3-深圳万仪

在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。测定原理：侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。主要特点：1.了解发射率有助于节约能源。例如，可以提高电加热器的发射率效率，设计产品注重散热和绝缘。 2.TSS-5X-2 无需在室温下加热目标即可轻松测量发射率。 3.当您测量它们的发射率时，您可以使用两个具有固定发射率的标准测量设备，一个具有 0.97 黑面率，另一个具有 0.06 镜面率。 通过读取从目标反射并通过黑体中的小孔到达传感器头的红外线来检测反射能量。技术规格：测定波长：2～22μm测定范围：放射率0.00～1.00测量精度：±0.01以内测定面积：Φ15mm测定距离：12mm材料温度：10～40℃（室温）数值显示：LED数位显示输 出：0～0.1V；0～1V Full-Scale环境温度：10～45℃环境湿度：35～85％（无结露状态）使用电源：AC220V, 60Hz外型尺寸：本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg 探侧头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg附 属 品：放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个。制 造 商：日本侦测器株式会社