X射线荧光分析测厚仪

X荧光分析测厚仪计量校准，维修

X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能；分析镀层厚度和元素成色同时进行；可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析

X荧光分析测厚仪，X荧光光谱仪计量校准，维修

德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪安全性能：通过德国PTB安全验证，符合德国安全法规标准

可测元素范围：钛(Ti) – 铀(U)

可测量厚度范围：

22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

准直器：0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。

可选四个组合：0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm

50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um