Tektronix泰克4200A-SCS 材料和半导体参数分析仪

I-V 源测量单元(SMU) ± 210 V/100 mA 或 ± 210 V/1 A 模块 100 fA测量分辨率 选配前端放大器提供了 10 aA测量分辨率 10 mHz - 10 Hz 超低频率电容测量 100 μF负载电容 四象限操作 2 线或 4 线连接 C-V 多频率电容单元(CVU) AC 阻抗测量 (C-V, C-f, C-t) 1 kHz - 10 MHz 频率范围 ± 30 V (60 V差分)内置DC偏置源，可以扩展到± 210 V(420 V 差分) 选配 CVIV 多通道开关，在 I-V 测量和 C-V 测量之间简便切换脉冲式I-V 超快速脉冲测量单元(PMU) 两个独立的或同步的高速脉冲 I-V 源和测量通道 200 MSa/s，5 ns 采样率 ±40 V (80 V p-p)，±800 mA 瞬态波形捕获模式 任意波形发生器 Segment ARB® 模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率 高压脉冲发生器单元(PGU) 两个高速脉冲电压源通道 ±40 V (80 V p-p)，± 800 mA 任意波形发生器 Segment ARB®模式，支持多电平脉冲波形，10 ns 可编程分辨率I-V/C-V 多通道开关模块 (CVIV) 在 I-V测量和 C-V 测量之间简便切换，无需重新布线或抬起探针 把 C-V测量移动到任意端子，无需重新布线或抬起探针远程前端放大器/ 开关模块(RPM) 在 I-V 测量、C-V 测量和超快速脉冲 I-V 测量之间自动切换 把 4225-PMU的电流灵敏度扩展到数十皮安 降低电缆电容效应