美国优特UTX650B 能量色散X荧光光谱仪

产品执行标准DIN50987，ISO3497，ASTMB568测试原理EDXRF能量色散X荧光光谱法测量样品固体、液体、粉末功能单镀层和多镀层测厚与元素分析最多可分析6层（不包括基层）镀液主盐成份分析高压发生器输入电压24VDC±10%输出电压0-50kV输出电流0-2.0mA输出精度0.01%X射线管X射线管靶材W靶X射线管窗口Be窗电气参数50W, 4-50kV,0-1000uA冷却方式油冷却 X射线照射方向从上往下↓照射范围Φ0.1mm使用寿命15000-20000h探测器探测器类型正比计数探测器元素分析范围K19-U92分辨率FWHM<760eV探测窗口铍窗，窗口面积：400mm2镀层测厚与元素分析指标元素分析范围K19-U92测厚范围0.01—35um第一层精密度/准确度相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时）

相对标准差3%以下（厚度大于8um时）第二层精密度/准确度相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时）测量时间10-60s谱处理系统处理器类型全数字化32-bit DSP谱通道数256，512，1024，2048可供选择计数率大于100000cps能量范围1400eV-40960eV死时间<3%光路系统和样品观测准直器系统单一准直器Φ0.1mm对焦系统镭射激光对焦样品观察系统300万像素高清CCD摄像头，20倍光学变焦样品室样品室内部空间（宽×高×深）：455×60×430mm样品台尺寸（宽×深）：250×275mm样品台承载重量≤5kg试验样品尺寸宽×高×深：440×50×410mm样品台控制方式三维电动样品台工作台移动技术数据X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm工作台移动精度0.005mm计算机和软件控制计算机联想品牌机，2G内存，500G硬盘驱动显示器联想19寸LCD显示器操作系统WindowsXP报告结果Word、Excel格式软件镀层测厚软件、元素分析软件软件类型FP基本参数法软件软件语言简体中文、繁体中文、英文、其它谱显示自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较谱处理总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合资料分析基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正重量和尺寸设备主体尺寸宽×高×深：W 503×H635×D790mm主体重量约80kg使用环境工作环境温度15-25℃，湿度40-70%RH电源系统单相220V±10%，工作电压在允许范围内其它1.不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置；2.减少振动；3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体；4. 日光不能直射；5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定。