直射太阳辐射测量探头

可用于进行太阳辐射照度、光化通量、光解速率和太阳光谱的测量。根据所采用的光学探头和光学检测器的不同，其具体的测量参数、时间分辨率、准确度和精密度也存在一定差别。目前，可提供三种类型的光谱型辐射测量仪。

（1）基于光电二极管阵列（PDA）的测量仪，其测量的光谱范围为285 – 715 nm（512象素）或220 – 1050 nm（1024象素），光谱分辨率（FWHM）为2.1 – 3 nm，根据需要，可选配用于光化通量、太阳辐射照度、直射太阳辐射测量的光学探头。

（2）基于电感耦合器件（CCD）的测量仪，其测量时间分辨率较之PDA型的更快，采用象素为532*64的CCD检测器，测量的光谱范围在285 – 700 nm，光谱分辨率（FWHM）小于1.8 nm，根据需要，可选配用于光化通量、太阳辐射照度、直射太阳辐射、以及天空辐射测量的光学探头。

（3）近红外测量仪，采用InGaAs检测器，光谱测量范围在900 – 1700 nm，可达到2500 nm，光谱分辨率（FWHM）约为6 – 18 nm，根据需要，可选配用于太阳辐射照度、直射太阳辐射、以及天空辐射测量的光学探头。