PHL PA-110小相位差应力双折射仪

PHL应力双折射仪器

PHL PA-110（-L)高速应力双折射测量仪

PHL应力双折射测试仪器简介：

PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

联系电话：01051528178.

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。

PHL应力双折射测试仪器主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理

PHL高速双折射测量 PA-110，PA-100-L

低相位差（如玻璃）的全面测试

针对相位差差别比较小的样品，要求测量速度高的应用，专门开发了PA系列的产品，测量速度快是核心。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

PHL高速双折射测量产品特点：

曲线图功能

CSV格式输出

轴相位差显示

缩放镜头功能

l 用于低相位差样品测试的标准系统。

l 适用于检测玻璃的应力或者透明晶片（如蓝宝石、SiC和GaN）的内部缺陷。

PHL高速双折射测量技术参数：

型号PA-110PA-110-L测量范围0-130nm重复性<1.0nm像素数1120x868（≒100万）pixels测量波长520nm尺寸310x395x605.5mm450x538x915.5mm观测到的面积100x136mm250x300mm重量18kg24kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-ViewPHL高速双折射测量应用领域：

玻璃，显示组件，注塑塑料件，拉伸纤维，光纤器件，微影手提袋，镜片毛坯，镜片，硅片，矿产，激光晶体，液态晶体，双折射晶体等。