PHL显微大相位差应力双折射仪

PHL应力双折射仪器

PHL WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪

PHL应力双折射仪器简介：

应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。

PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO

匹配显微镜测量双折射

测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体

薄膜、金属晶体、不透明基板等材料在显微镜视场下评估和管理双折射分布PHL应力双折射仪器参数：型号WPA-Micro测量范围0-4000nm重复性<1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm观测到的面积5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View（for Micro）