手动白光干涉仪SIS 1200

手动白光干涉仪SIS 1200

·基本信息

品牌：SNU型号：SIS 1200操作方式：手动功能：检测、观察、分析精度 ：1nm 其它型号：SIS 2000 电子型录（宣传册）下载 标准报价单下载·产品介绍

白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,，为韩国SAMSUNG全球唯一指定供应商，LPL友好俱乐部成员，清华大学，台湾大学，首尔大学友好合作伙伴。

·产品特点

1、非接触式测量：避免物件受损。

2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。

3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。

4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。

5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。

6、扫描仪：采用闭环控制系统。

7、工作台：气动装置、抗震、抗压。

8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。

·技术参数

机型SIS 1200工作台尺寸250 mm×174 mm倾斜度±3 °测量行程X:150mm Y:100mmZ轴行程50mm运动方式手动扫描速度30μm/sec垂直分辨率0.1nmCCD黑白CCD， 640×480 像素物镜安装架手动导引五孔式镜头选配镜头：5×、10×、20×、50×