LM-80测试，LED光源，LED灯珠，LED二极管LM-80测试

谭绪良：132 6619 6588

随着LED技术的持续发展，特别是白光功率和效率的不断提高，以LED 为代表的大功率半导体照明器件在近年来得到了飞速的发展，并且在不同照明系统(例如，逃逸出口指向灯、交通信号灯、通道字母符号)和另外的显示形式中得到日益广泛的使用。与传统照明光源相比，LED 具有长寿命、低的驱动电压和快速的响应时间等诸多优点，但其可靠性方面的研究仍很缺乏。作为光源，只讲光效，不讲光输出的流明维持寿命同样是没有实用意义的。LED 的理论寿命为10 万小时，如果仍采用常规的正常额定应力下的寿命试验，很难对产品的寿命和可靠性做出较为客观的评价，如何科学地预测LED 光通量维持寿命，确保LED 使用的可靠性，不仅需要建立预测模型，而且需要保证一定的试验时间，不能急于求成，而是要静心研究与试验，科学地预测。 需要对单颗LED 寿命做出评估。目前比较通行的做法是：在同型号的一批LED中，抽取一定的LED样品，并老化数千小时（通常不小于6000小时），在老化前先测试每一颗LED的光色电参数，并在老化过程中每间隔一定时间测量其光色电参数；老化时间越长，LED光输出的衰减越大，把每次测量的结果保存，并根据一定的算法计算出老化后LED的光输出衰减量，从而推算出这一型号的LED寿命。