GT100显卡BGA测试治具

GT100显卡测试治具，采用双头探针（pogo pin)结构，根据客户提供的显卡和文件来设计生产。

GT100显卡测试治具产品特点：1. 座头采用手动翻盖结构，操作灵敏。

2. 座头顶盖的芯片压块采用人性化结构，下压力度平稳，保证IC的压力均匀，不偏移。

3. 探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定, 保护锡球外形。

4. 理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确。

5. 特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏。

6. 探针：进口探针，铍铜镀硬金、铑。寿命10万次以上

7.维修成本低：方便更换探针，成本低效率高。

8.高强度耐高温绝缘材料：330度。

9.成熟加工精度范围：跳距pitch=0.38mm。

10.交货周期：最快三天内交货。

产品适用规范：

1、取放IC时，注意IC一脚方向正确，这样可以避免造成产品短路损坏。

2、操作要规范，压扣的力度要适当，这样可以增加测试治具的使用寿命。

3、取放IC是要把电源关闭，这样可以保护主板。

4、测试时要注意观察指示灯或电流表的状态正常。

5、出现连续数颗芯片测试不良，则请用已确认好芯片进行校对，若通过测试，则可以继续测试，如连续校对几次都未通过，则请专业人员检查或维修测试治具。

6、禁止使用洗板水的液体清洗探针和治具。

7、禁止使用硬金属刮碰测试探针。

8、不使用时，请关闭电源，放置无灰尘的地方存放。