DBC-022可控硅伏安特性测试仪

机内自备有专用示波器供观看伏安特性曲线测试参数数字显示峰值电压测试范围： 0－V可选，也可定制其它范围峰值漏电流测试范围：0－200uA/0-1000uA/0-10mA可选，也可定制其它范围可配专用测试管座

DBC-022 晶闸管伏安特性测试仪简介： 专门针对小功率可控硅研制开发的专用测试仪，可测试各种小型塑封管，型号包括 BTA16、MCR100-6、T410等。 该测试仪是符合国标GB4023-83《半导体器件整流二极管的测试方法》和GB-4024-83《半导体反向阻断三极晶闸管的测试方法》，能测试各种小功率可控硅、半导体元件等的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM与各种小功率二极管的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等参数。小功率IGBT、场效应管、整流桥、固态继电器、光耦等半导体器件都可测试。线路设计简洁精炼，采用单片机控制，具有体积小、重量轻、操作简单、测试准确、保护可靠和维修方便等特点，是可控硅及二极管等半导体器件生产单位、经销商及整机单位用来检测器件伏安特性（也叫阻断特性）参数的 为理想的专用检测设备。

主要技术指标： 1．峰值电压测量范围：0600V、01000V、02000V可选，也可定制其它范围 2．峰值漏电流测量范围：0200uA、01000uA、010mA，也可定制其它范 3．峰值漏电流保护设定范围：同上对应漏电流范围 4．机内示波器可观看动态峰值电压与峰值漏电流的变化伏安特性曲线波形 5．根据器件封装可配专用测试管座