供应安捷伦4291B阻抗分析仪1MHz到1.8GHz电桥LCR

HP4291B测试仪 特点 ·基本精度:±0.8% ·先进的校准和误差补偿技术 ·四种元件用的测试夹具(被测件尺寸:0.5mm~20mm) ·在两上通道内独立选择参数 ·直接读出介电常数,导磁率 ·两种材料用的夹具(工作温度范围:-55℃~-200℃) ·能进行多种分析(温度、科尔图、弛豫时间) ·多种扫描参数(频率、交流电平、直流偏置、温度) 主要技术指标 4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm） 独立选择2个通道的参数 直接读取介电常数、导磁率（选件） 2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度） 多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间） 扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度） 宣传资料 2006-07-13 | PDF 697 KB | 订购拷贝件 描述 Agilent 4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent 4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更精确的阻抗测量结果。 基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。先进的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高精度和可重复性。 Agilent 4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。 Agilent 4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。