SANKO山高 SWT－9000F 膜厚计 测量器

◆?y定??欷?/span>0～2.5mmのワイドレンジ◆ゼロ???收{整ですぐに?y定可能用 途◆?T装／ライニング／メッキ◆?T装一般

仕 ???y定???/span>0～2.50mm表示分解能1μm：0～999μm

切替で 0.1μm：0～400μm

0.5μm：400～500μm

0.01mm：1.00～2.50mm?y定精度均一面に??して

0～100μm：±1μmまたは指示??の±２％

101μm～2.50mm：±２％以内表示方式CDデジタル、表示ホ?ルドメモリ?柿烤?×1プロ?ブ1点定?R接触式、Vカット付、φ13×48mm?源?g３乾?池（1.5V）×２ オ?トパワ?オフ使用温度0～40℃（?露しないこと）寸法重量72(W)×30(H)×156(D)mm、?270g付属品??屎癜濉ⅴ匹攻扔氓讥戆濉?Ъ{ケ?ス