供应 HIOKI 3504-50 C测试仪 高速测量

C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40<元器件测量<产品生产线最适合的产品C测试仪 3504-60/ 3504-50/ 3504-40封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等高速测量2ms能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断对应测试线，比较器功能/触发输出功能3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件基本参数测量参数Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）测量范围C:0.9400pF～20.0000mF

D:0.00001～1.99000基本精度（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016

※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数测量频率120Hz, 1kHz测量信号电平恒定电压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V

测量范围:

CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)

CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)输出电阻5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）显示发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）测量时间典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）

※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同功能BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)电源AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 110VA体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg附件电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)

选件：

9677 SMD测试治具

9699 SMD测试治具

9263 SMD测试治具

9262 测试治具

9261 测试治具

9143 针形探头

9140 4端子开尔文夹

9151-02 GP-IB连接线

9442 打印机

9443-02 AC适配器

9444 连接电缆

1196 记录纸