智能二极管参数测试仪

JFY3021A晶体管参数测试仪详细介绍

※概述:

JFY3021A晶体管参数测试仪，是一种专门用于各种电子元件参数测试的新型多功能测试装置。该机采用大规模MCU设计,中文界面操作,大容量内存,可存2000种元件参数设置数据.仪器外型美观、性能稳定、测量准确、操作简单、使用安全方便,适用电子产品生产厂家或电子元件供应商来料检测。

※ 测量元件类型:

N型三极管,P型三极管,N型MOS场效应管,P型MOS场效应管N型结型场效应管,正负三端稳压IC,三端肖特基,基准器431,整流二极管.

※ 测量参数:

■ 整流二极管,三端肖特基:参数項测试参数测试条件设置正向压降(VF)0-2.000V0-2.000A耐压(VRR)0-1500V0-2.000MA

■N型三极管:参数項测试参数测试条件设置输入正向压降(VBE)0-2.000V0-2.000A耐压(BVCEO)0-1500V0-2.000MA放大倍数(HEF)0-3000VCE:0-20V IC:0-2.000A饱和压降(Vsat)0-2.000VIB:0-2.00A IC:0-2.00A■P型三极管:参数項测试参数测试条件设置输入正向压降(VBE)0-2.000V0-2.000A耐压(BVCEO)0-1500V0-2.000MA放大倍数(HEF)0-3000VCE:5.0V IB:100uA饱和压降(Vsat)0-2.000VIB:0-2.00A IC:0-2.00A

N,P型MOS场效应管:参数項测试参数测试条件设置启动电压(VGS(th))0-20.00V0-2.000mA耐压(BVCEO)0-1500V0-2.000mA导通内阻(Rson)1Mr-200RVgs:0-20V Id:0-2.000A三端稳压IC:参数項测试参数测试条件设置输出电压(Vo)0-20.00VVin:0-20V Io:0-2.00A基准IC 431:参数項测试参数测试条件设置输出电压(Vo)0-20.00VIZ:0-200mA