HANWA N5000 ESD TEST SYSTEM抗静电测试

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型号

N5000

用于检测集成电路、分立器件及Wafer等产品的抗静电能力。

主要功能:

模拟静电产生模式（即人体模式（HBM）、机器模式（MM）和闩锁模式）来检测集成电路、分立器件及Wafer等产品的抗静电能力。

主要特征：

测试针数量可达1024针；

HBM Voltage：0-8KV；

M M Voltage：0-4 KV；

具有Latch Up功能等。

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