各大高校实验室专用高精密IGBT静态参数测试系统

系统概述

● 针对 IGBT 的各种静态参数而研制的智能测试系统

● 自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作）

● 计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储

● 采用品牌工控机，具有抗电磁干扰能力强，排风量大等特点

● 测试方法灵活（可完美测试器件以及单个单元和多单元的模块测试）

● 安全稳定（PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁）

测试系统指标

1.测 试 电 压： ≤2KV

2.测 试 电 流： ≤50A

3.电 压分辨率： 1mV

4.电流 分辨率： 0.1nA

5.测 试 精 度： 0.2%±2LSB

1.3 测试范围

1．双向可控硅（TRIAC）

2．MOS场效应管（Power MOSFET）

3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）

4．结型场效应管 （J-FET ）

5．晶体管（Transistor）

6．达林顿阵列(Darliknton)

7．稳压（齐纳）二极管（Zener）

8．二极管(Diode)

9．可控硅整流器（SCR ）

10．三端稳压器（REGULATOR ）

11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）

12．双向触发二极管 （DIAC)

13．固态过压保护器（SOVP）

14．继电器（RELAY）