半导体晶体管特性参数图示测试系统

半导体晶体管特性参数图示测试系统YB6600测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下，这些源与条件负载按照条件准确的连接，其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。

YB6600测试仪指标

1.测 试 电 压： ≤2KV

2.测 试 电 流： ≤50A

3.电 压分辨率： 1mV

4.电流 分辨率： 0.1nA

5.测 试 精 度： 0.2%±2LSB

测试范围

1．双向可控硅（TRIAC）

2．MOS场效应管（Power MOSFET）

3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）

4．结型场效应管 （J-FET ）

5．晶体管（Transistor）

6．达林顿阵列(Darliknton)

7．稳压（齐纳）二极管（Zener）

8．二极管(Diode)

9．可控硅整流器（SCR ）

10．三端稳压器（REGULATOR ）

11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）

12．双向触发二极管 （DIAC)

13．固态过压保护器（SOVP）

14．继电器（RELAY）

系统软件支持器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上YB6600接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成，具有全屏显示和增强型编辑帮助。 一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下，输入所选器件系列名称和测试类型，并选择所需测试的参数，而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间，非常快捷方便。