加速老化试验箱 测试印刷线路板 半导体封装之抗湿气能力 安奈环试

1. 产品名称型号 PCT非饱和高压加速老化试验机SHA-1002. 试样限制 本试验设备禁止：易燃、易爆、易挥发性物质试样的试验或储存。腐蚀性物质试样的试验或储存。强电磁发射源试样的试验或储存。3. 容积、尺寸和重量容积 内箱尺寸外箱尺寸 Φ300×D 450 （mm） W650XH1200XD950（mm） 4. 性能测试环境条件测试方法 环境温度为+25℃、相对湿度≤85%、

试验箱内无试样条件下GB/T

温度试验设备. 温度范围 105℃ → +132℃.

温度波动度 ≤±0.5℃.温度均匀度 ≤±2.0℃.

湿度范围 75% ～ 100 %R.H .湿度波动度 ≤±2.5 %R.H.湿度均匀度 ≤±3.0% R.H.

压力范围 0.2～2㎏/㎝2 (0.05～0.196 MPa) （箱内压力）

升温时间 常温 → + 132℃ 约50 min .

升压时间 常压 → + 2㎏/㎝2 约45 min.

外部气源加压：约5 min

5、质保期：一年

6、厂家直派上门服务安装调试