深圳市旭日鹏程光电有限公司
主营产品:电工仪器仪表
2023年12月08日 12:10
型号 |
TEST4500 |
传感器模组 |
旋转式模组 |
测试方法 |
自动测试 |
更换模组 |
自动更换 |
破坏性测试 |
支持 |
钩针 |
X2 |
非破坏性测试 |
支持 |
金球推针 |
X2 |
传感器精度 |
±0.05% |
晶片推刀 |
X2 |
综合测试精度 |
±0.1% |
其他型号 |
支持配置 |
拉力标配量程 |
0-100g |
拉力满量程 |
0-10kg |
金球标配量程 |
0-250g |
金球满量程 |
0-500g |
晶片标配量程 |
0-20kg |
晶片满量程 |
0-200kg |
显微镜 |
双目变倍 |
XY轴行程 |
200mm |
三目显微镜 |
CCD(选配) |
Y轴最大推力 |
200Kg |
压缩空气 |
4.5-6Bar |
Z轴行程 |
100mm |
电脑 |
联想PC |
Z轴最大拉力 |
10Kg |
系统 |
win10 |
设备名称 |
推拉力机 |
电源 |
220V±5% |
尺寸 |
800x600x800 |
功率 |
300W(max) |
重量 |
80kg |
TEST推拉力测试仪 光通信TO56封装测试 微电子剪切力测验 拉伸试验 微焊点推力测试
TEST推拉力测试仪产品特点:
★自动测试型设备,取代低效率传统手动推拉力测试机
★左右摇杆控制XYZ轴,操作简单
★误差范围±0.01%,可根据产品需求配置不同传感器模块
★根据产品定制夹具,夹具可360度旋转,平台可通用各种夹具
★软件自带校正功能,采用国标通用校准工具
★测试数据在电脑上以波形图、直方图、数据列表等形式实时显示、保存、打印
光通信TO56封装测试主要功能介绍
半导体推力测试仪适用于LED封装、半导体封装、智能卡封装、光通信、汽车电子、太阳能行业,还有各种大学、研究所、可靠性分析机构地材料分析、以及电子电路故障分析测试。
微电子剪切力测验TEST系列操作方法:
1、把检测的样品放在测试仪器的夹具中(不同的产品夹具不同),并紧扣。
2、重置后输入产品型号,操作人员等。
3、轻摇左右摇杆,把夹具中的测试样品移到推拉力表治具前端。
4、在显微镜的帮助下,把推拉力表治具上钢针对准要检测的产品。
5、点击测试按钮,机器将自动测试,不存在人为干预,使测量的产品在仪表上产生数据准确、可靠。
拉伸试验操作流程
1,开启推拉力测试机和电脑软件后,重置;
2,添加(选择)测试项目,输入测试产品型号、操作人员等;
3,放置检测样品位置到显微镜能看到的中心位置;
4,拨动夹紧开关,夹紧检测样品;
5,打开真空吸附开关;
6,调节推刀左右和高度位置,在检测样品正后方为佳;
7,操作左右摇杆,移动推刀到检测样品附近位置,能清晰看到推刀高度与检测样品高度位置为佳;
8,按一键测试按钮,进行推力测试,电脑将自动显示测试结果;
9,下一个检测样品的测试(先提升高度后再移动),重复步骤5,6;
10,测试结束,关机。
微焊点推力测试安装调试所需环境:
1、接入条件:
(1)电压:220V;
(2)电压频率:50HZ;
2、车间要求:
(1)洁净或无尘车间;
(2)温度:20°C--30°C;
(3)湿度:40%--70%。
3、设备放置: 稳定、防震动工作台面。
4、外部要求:
(1)接地线。
(2)安装防雷设备。
(3)停电后,禁止使用本设备。
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