晶体测试仪(图)

XT-150D克服了模拟晶体阻抗计功能单一、可靠性差，读数不直观的缺点，采用技术，自带频率和频差（ppm）测量功能，等效电阻，负载电容和静电容数字化显示。可以设定频差上下限，对合格品，仪器会语音告知测试者，减轻了劳动强度，提高了工作效率，是一项高品质的智能化产品. 主要测试项目：

1． 晶体的串联谐振频率FS。

2． 晶体的负载谐振频率FL。

3． 晶体的串联谐振电阻RR。

4． 晶体的负载谐振电阻RL。

5． 晶体的静电容C0。

6． 晶体的负载电容CL。

7． 晶体的频差ppm或KHz。

技术指标：

1． 晶体频率测量范围3―60ＭＨｚ。

2． 等效电阻测量范围０―２００Ω。

3． 静电容测量范围：０―２０ＰＦ。

4． 负载电容的调整范围：１０―――４０ＰＦ。

5． 激励电平的调整范围：１０―――５００ｕＷ。

6． 晶体等效电阻的测量误差：≤５％。

7． 激励电平误差： ≤５０％。

8． 工作温度范围： ＋１５―――＋３５℃。

9． 时基稳定度（10MHz）： 5×10-7

10． 电源电压： ２２０Ｖac ＋／－１０％。

11． 功耗： ≤１５W。