EMMC153/169翻盖弹片不带板测试座emmc169/153空座子编程座

EMMC153/169翻盖弹片老化座 描述；eMMC153/169翻盖弹片老化座是我公司为了FLASH行业研发的低成本，下压结构节省测试环境空间，适合大批量老化测试！成为成本测方案，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。我们市场大部分flash产品的测试都是采用我们公司定义的eMMC标准脚位，为客户节约的成本！另外我公司有TSOP48双触点测试座，BGA107/100/132/137/149/152/169/162/LGA5260各类转DIP48/SD/USB接口测试座） 规格图纸：