奥普新type-c耳机测试高端领跑，超值的智能音箱测试倾情奉

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延伸拓展

产品详情：6.在进行降噪耳机测试的降噪性能测试时，通常使用的方法是在消音室搭建测试环境，用音箱播放噪声音频，并在降噪耳机测试内部放置拾音麦克风。测试时，先将耳机的降噪功能关闭，用声卡采集拾音麦克风的输出信号，使用信号处理算法，可以得到耳机内部拾音麦克风的噪声频率响应曲线F1。再将耳机的降噪功能打开，用声卡采集拾音麦克风的输出信号，使用信号处理算法，可以得到耳机内部拾音麦克风的噪声频率响应曲线F2。用F2／F1，即得到耳机的降噪特性曲线。上述测试方法中，F1和F2的产生时间并不完全相同，使得F2／F1的计算结果往往不能真实反映耳机的降噪特性。举例说明如下：假设测试F1时，音箱是的音源，测试系统不会收到额外的音频信号，这时F1真实反映了降噪功能关闭时耳机的噪声响应特性；但当测试F2时，测试环境中出现了额外的音频信号（记为△，该信号可能是外界干扰、实验人员发出的声音或周围物体搬动所发出的声响），这时F2的值变为F2×△，显然（F2×△）／F1不等于F2／F1，不能真实反映耳机的降噪特性。解决上述问题的通常做法是改善测试环境，即提高测试环境的消音特性、隔音特性并减小测试过程中的人为音频干扰。显然，为准确测量耳机的降噪特性，使用常规的测试方法需要对测试环境进行较大的资金投入，用于建造消音室。另外，性能较好的消音室尺寸较大，不便于在耳机生产线上布置。因此，亟需提供一种降噪耳机测试的测量方法，以解决现有技术的不足

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